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OFET測試晶片S181 Ossila測試晶片S182 代理Ossila
OFET測試晶片S181 Ossila測試晶片S182 代理Ossila
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供應數量：
 2604
發布日期：
 2025/3/23
有效日期：
 2025/9/23
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只用于動物實驗研究等

Low density bottom gate bottom contact prefabricated FET substrate Pre-fabricated low-density FET substrate.

OFET測試晶片S181 Ossila測試晶片S182 代理Ossila

Schematics

Constant channel length design

OFET測試晶片S181 Ossila測試晶片S182 代理Ossila

Low density FET substrate mask dimensions (constant channel length)Constant channel width low-density FET design.

 

Variable channel length design

Low density OFET substrate mask dimensions (variable channel length)Variable channel width low-density FET design.


 
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